波蘭QWED微波Q表 微波頻率Q表 Type 2

QWED您在EM建模和研究中的合作伙伴
QWED Sp. z o.o.ul


QWED微波Q表，根據(jù)頻率范圍區(qū)分出了3個(gè)型號(hào)：

type 1:4.4 GHz- 5.2 GHz

type 2:1.4 GHz - 2.6 GHZ

type 3:0.7 GHz - 1.3 GHZ

供貨范圍如圖：



微波頻率Q-Meter(微波頻率Q-Meter)
一種廉價(jià)的計(jì)算機(jī)控制微波振蕩器系統(tǒng)，可通過(guò)專(zhuān)用的 SPDR 和 SiPDR 進(jìn)行快速自動(dòng)測(cè)量。

每個(gè)微波/材料實(shí)驗(yàn)室的精確介電測(cè)量設(shè)置允許用低成本、非常準(zhǔn)確的測(cè)量取代昂貴的測(cè)量設(shè)備。

微波頻率 Q 表，使用專(zhuān)用的 SPDR 和 SIPDR 諧振器進(jìn)行快速自動(dòng)測(cè)量。專(zhuān)用、用戶(hù)友好且高度可配置的應(yīng)用程序允許控制測(cè)量過(guò)程并輕松管理測(cè)量結(jié)果。

SPDR 用于測(cè)量層流介電材料(包括 LTCC 襯底)以及沉積在低損耗介電襯底上的鐵電薄膜的復(fù)雜介電常數(shù)。此外，SPDR還可用于測(cè)量各種導(dǎo)電材料的表面電阻和電導(dǎo)率，例如商業(yè)電阻層、導(dǎo)電聚合物薄膜或高電陽(yáng)率半導(dǎo)體。這種測(cè)量?jī)H適用于Rs>5 kΩ/平方的大表面電阻樣品。

SiPDR 用于測(cè)量超材料和電阻膜的表面阻抗，以及半導(dǎo)體品片電導(dǎo)率的非接觸式測(cè)量。可測(cè)量的薄膜材料范圍包括電阻層金屬薄膜和導(dǎo)電聚合物薄膜，表面電阻 Rs<20 kQ/square。

傳統(tǒng)上，使用諧振器進(jìn)行最、精確的測(cè)量是使用自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行的。

QWED開(kāi)發(fā)了一種廉價(jià)的計(jì)算機(jī)控制微波振蕩器系統(tǒng)，可通過(guò)專(zhuān)用的SPDR和SiPDR進(jìn)行快速自動(dòng)測(cè)量。

Q-Meter 的硬件部分由 PLL穩(wěn)定的微波源和 DDS 生成的基準(zhǔn)電壓源組成，由快速 32 位 ARM 微控制器控制。寬帶對(duì)數(shù)功率檢測(cè)器用于測(cè)量通過(guò)諧振器的發(fā)射功率電平。多點(diǎn)共振曲線(xiàn)擬合算法將使Q 因子能夠準(zhǔn)確計(jì)算。唯、一需要的外部信息是被測(cè)樣品的厚度。硬件非常簡(jiǎn)單，并且使用計(jì)算機(jī)屏幕來(lái)顯示結(jié)果，從而顯著降低了開(kāi)始探索具有SPDR和SiPDR的材料電磁特性的成本。

微波率 Q-Meter可以通過(guò) US8端口連接到計(jì)算機(jī)，專(zhuān)用應(yīng)用程序允許控制測(cè)量過(guò)程并輕松管理測(cè)品結(jié)果。使用專(zhuān)用的 SPDR和 SIPDR，可以測(cè)量材料的以下電磁特性

介電常數(shù)(僅限 SPDR)

介電損耗角正切(僅限 SPDR)

電阻率

薄膜的片材電阻

連接到 SPDR 和計(jì)算機(jī)的微波頻率 Q 表。微波頻率 Q 表連接到 SiPDR 和計(jì)算機(jī)。

注意：QWED微波Q表需配合QWED的 SPDR/SiPDR 諧振器一同使用。

技術(shù)規(guī)格:

前面板和后面板標(biāo)識(shí)：1 - 模式指示燈：綠色 - 待機(jī)模式，綠色閃爍 - 測(cè)量中，紅色 - 錯(cuò)誤；2 - 信號(hào)源輸出（SMA 母頭）；3 - 探測(cè)器輸入（SMA 母頭）；4 - 迷你 USB 連接器

硬件：電源：5V (USB)，~400 mA；測(cè)量精度：ε：Q>1000 為 1%；坦 δ：Δtanδ=±2×10?? 或 ±0.03×tanδ，以較高者為準(zhǔn)；測(cè)量的 Q 因子范圍：200~100000；頻率范圍：類(lèi)型 1: 4.4 GHz ~ 5.2 GHz，類(lèi)型 2: 1.4 GHz ~ 2.6 GHz，類(lèi)型 3: 0.7 GHz ~ 1.3 GHz；頻率分辨率：1 千赫；頻率穩(wěn)定性：2.5 頁(yè) / 分鐘（注：推測(cè)可能為 “2.5 ppm / 分鐘"，按原文保留）；輸出功率：12 dBm ± 3 dBm；輸入功率范圍：-55 dBm ~ -5 dBm；測(cè)量時(shí)間：< 10 秒；大小：19 毫米 ×72 毫米 ×108 毫米；重量：250 克

軟件：專(zhuān)用控制應(yīng)用：Windows 操作系統(tǒng)；導(dǎo)出結(jié)果：CSV 文件格式，BMP 圖片；導(dǎo)入結(jié)果：CSV 文件格式

波蘭QWED成立于1997年，開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)具有最高精度的電磁模擬器，多種類(lèi)型的諧振器用于精確測(cè)量微波頻率下材料的電磁特性和微波頻率 Q-Meter- 一種廉價(jià)的計(jì)算機(jī)控制微波振蕩器系統(tǒng)，可使用專(zhuān)用諧振器進(jìn)行快速自動(dòng)測(cè)量。

主要產(chǎn)品分為EM軟件和材料測(cè)量產(chǎn)品。

材料測(cè)量

介電材料的完整測(cè)量裝置，包括測(cè)試夾具（諧振器）和經(jīng)濟(jì)高效的微波 Q 計(jì)。

幾種類(lèi)型的諧振器，用于精確測(cè)量微波頻率下材料的電磁特性。

一種新型的法布里-珀羅開(kāi)放諧振器 （FPOR），帶有高斯鏡，用于在 20-110GHz 頻率范圍內(nèi)對(duì)低損耗介電片的電磁特性進(jìn)行自動(dòng)寬帶和精確諧振測(cè)量。

使用便攜式 2D 掃描儀對(duì)材料樣品進(jìn)行高效成像，該掃描儀集成了 10GHz 分柱式介質(zhì)諧振器，由低外形矢量或標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)分析儀驅(qū)動(dòng)。

微波 Q-Meter - 一種廉價(jià)的計(jì)算機(jī)控制微波振蕩器系統(tǒng)，可通過(guò)專(zhuān)用的 SPDR 和 SiPDR 進(jìn)行快速和自動(dòng)測(cè)量。

測(cè)量設(shè)置

介電材料的完整測(cè)量設(shè)置，包括具有成本效益的微波 Q 表。

諧振 器

幾種類(lèi)型的諧振器，用于精確測(cè)量微波頻率下材料的電磁特性。

Fabry-Perot 開(kāi)路諧振器

一種新型法布里-珀羅開(kāi)式諧振器 （FPOR），帶有高斯鏡，用于自動(dòng)寬帶和 20-110 GHz 頻率范圍內(nèi)低損耗介電片電磁特性的精確諧振測(cè)量。

表面映射

使用便攜式 2D 掃描儀對(duì)材料樣品進(jìn)行高效成像，該掃描儀集成了 10GHz 分柱式介質(zhì)諧振器，由低外形矢量或標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)分析儀驅(qū)動(dòng)。

常用產(chǎn)品和型號(hào)有

電介質(zhì)諧振器、微波Q表、微波頻率Q表、諧振器、諧振腔、Q-Meter 8.4 - 10.4 GHz、SPDR 10G、SPDR 2.5 GHz、SPRD 10 GHz、Type 2(含軟件)

材料測(cè)量類(lèi)產(chǎn)品有：
分體式介電諧振器 （SPDR），SPDR 基本系列的標(biāo)稱(chēng)頻率為：1.1 GHz、2.45 GHz、5 GHz、10 GHz 和 15 GHz。1.1 至 15 GHz 范圍內(nèi)其他頻率的諧振器可根據(jù)特殊要求制造。

單柱介質(zhì)諧振器 （SiPDR）

Q-choke 分體式圓柱諧振器 （Q-SCR）Q-SCR 10GHz、SPDR 10 GHz

TE01δ 型介質(zhì)諧振器

用于石墨烯測(cè)量的諧振器

法布里-珀羅開(kāi)放諧振器 （FPOR）

10 - 26.5 GHz、10 - 43 GHz、10 - 50 GHz、10 - 67 GHz、10 - 110 GHz 等

寬帶 FPOR固體電介質(zhì)、D 波段 FPOR固體電介質(zhì)、FPOR液體電介質(zhì)、FPOR導(dǎo)體

用于材料成像的 2D SPDR 掃描儀

波蘭QWED微波Q表 微波頻率Q表 Type 2

QWED Sp. z o.o.ul